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技術開発名 高温X線回折装置を用いた結晶構造解析
キーワード ・材料開発 ・結晶構造 ・温度可変

担当代表者名 菱沼 良光
所属・役職名> 核融合システム研究系・助教
所内共同開発者名
(所属・役職名)

西村 新
(核融合システム研究系・教授)

田中 照也
  (核融合システム研究系・助教)
技術開発分野
(●が該当)
・ ライフサイエンス      ・ 情報通信      ・ 環境
 ● ナノテクノロジー,材料  ・ エネルギー     ・ 製造技術
  ・ 社会基盤          ・ フロンティア    ・ その他
技術開発概要 X線回折装置のゴニオ部に温度可変ユニットを取り付けることで、室温から1600℃(大気あるいは雰囲気ガス)までの温度範囲でその場におけるX線回折パタ−ンを測定する。試料形態については一般的なX線回折装置と同様に対応可能である。また、未知試料については最新の物質構造デ−タを含んだプログラムが整備されており、詳細な組成分析や結晶構造解析も可能である。今後、薄膜等の低角度入射での測定にも対応可能なアタッチメントも整備予定になっている。
  • 物質の構造変化におけるその場観察(温度及び雰囲気効果)
  • 未知試料の成分評価
  • 薄膜等の結晶構造解析(低角度固定測定)アタッチメントの整備後
共同開発等可能分野・用途,創造性等 物質の構造に関する情報は、材料の表面処理、改質、 新材料の開発、プロセス技術の開発、等を行う上で非常に重要である。既存のX線回折装置では常温での測定に限定されるが、高温度下での結晶構造や物性の変化を把握することで、異なる新しい学術や技術分野を開拓する可能性があり、新機能材料の開発の可能性がある。
主な使用可能機器名 X線回折装置(定格3kW)、温度プログラムコントロ−ラ−、制御用PC

知的所有権
(名称・特許番号または出願番号等)

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